大步入式恒溫恒濕循環(huán)箱可程式高低溫實(shí)驗(yàn)室用于針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備，特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫循環(huán)試驗(yàn)。

大步入式恒溫恒濕循環(huán)箱可程式高低溫實(shí)驗(yàn)室

一、宇航志達(dá)高低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)箱廠(chǎng)家高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)指標(biāo)：
1、溫度范圍：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃
2、溫度均勻度：≤±2℃ ?(空載時(shí))
3、溫度波動(dòng)度：±0.5℃ (空載時(shí))
4、溫度偏差:≤±2℃
5、降溫速率：1.0～1.2℃/min
6、升溫速度：2.0～3.0℃/min

高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱產(chǎn)品簡(jiǎn)介：高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱滿(mǎn)足GB/T 2423.1-2008試驗(yàn)A《低溫試驗(yàn)方法》；GB/T 2423.2-2008試驗(yàn)B《高溫試驗(yàn)方法》；GB/T 2423.3-2006試驗(yàn)C《恒定濕熱方法》；GB/T 10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)制造，可進(jìn)行各種高低溫濕熱環(huán)境試驗(yàn)。